一． 概述
| 故障发生地 |
型号 |
器件批次号 |
| 测试 |
ADF4360-7BCPZ |
DC1424 DC1423 |
| 故障信息： |
||
| 失锁 |
||
二． 结论
芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁，为设计上的问题。
三． 分析过程
3.1 失效确认
把器件换到正常的PLL板上测试发现PLL无法锁定，ADF4360输出频率不对，且输出相噪很差的信号。
把失效器件更换到评估板上测试，改变评估板软件的输出频率，ADF4360-7输出频率（423MHz）不变，且输出相噪很差的信号。测试ADF4360-7 Vturn电压只有几十mV。
更改配置软件的Core Power Current(改小)电流及RF Output power（改小）能使输出恢复正常。
3.2外观检查
1）外观检查，没有发现外观损坏情况。
3.3 X-Ray检查
1）X-RAY检查无异常。
3.4 管脚电阻测试
管脚电阻测试正常芯片与失效芯片对比无异常。
|
|
管脚 |
1 |
2 |
3 |
4 |
5 |
6 |
7 |
8 |
9 |
10 |
11 |
12 |
| GOOD |
正向 |
58.3 |
14.2M |
0.7 |
OPEN |
OPEN |
OPEN |
5.3M |
0.8 |
OPEN |
OPEN |
0.8 |
OPEN |
|
|
反向 |
60 |
3.9M |
0.7 |
6.6M |
6.7,M |
2.0M |
2.4M |
0.8 |
OPEN |
OPEN |
0.8 |
2.2M |
| FAIL |
正向 |
60.7 |
14.6M |
0.7 |
OPEN |
OPEN |
OPEN |
5.9M |
0.9 |
OPEN |
OPEN |
0.9 |
OPEN |
|
|
反向 |
61.3 |
3.9M |
0.8 |
6.7M |
6.7M |
2.1M |
2.56M |
0.8 |
OPEN |
OPEN |
0.9 |
2.27M |
|
|
管脚 |
13 |
14 |
15 |
16 |
17 |
18 |
19 |
20 |
21 |
22 |
23 |
24 |
| GOOD |
正向 |
OPEN |
OPEN |
24.2 |
OPEN |
OPEN |
OPEN |
OPEN |
6.7M |
73M |
0.9 |
OPEN |
40M |
|
|
反向 |
2.4M |
2.0M |
24.5 |
2.4M |
2.49M |
2.48M |
2.47M |
2.48M |
4.0M |
0.9 |
2.4M |
2.47M |
| FAIL |
正向 |
OPEN |
OPEN |
24.9 |
OPEN |
OPEN |
OPEN |
OPEN |
7.3M |
92M |
0.9 |
OPEM |
45M |
|
|
反向 |
2.53M |
2.14M |
25 |
2.55M |
2.56M |
2.57M |
2.58M |
2.58M |
4.0M |
0.9 |
2.57 |
2.55M |
3.5 管脚IV特性曲线测试
管脚IV特性曲线测试正常芯片与失效芯片对比无异常。
3.6 DECAP
开封1 PCS失效样品与正常样品，开封观察芯片内部结构复杂，且表面覆盖了一层金属层，无法观察到异常
3.7后续补充
后续ADI的亚洲区技术支持工程师专门来现场确认，现场更改了电路板及评估板的一些参数，包括更改环路滤波的参数，也没办法解决出现的杂散问题，带回了2PCS失效样品回去分析。
带回去的2 PCS失效样品他们确认是没有问题的，他们的工程师建议我们在没有用的RFoutB上加上一个50Ω的负载再测试看一下。
排查我们内部的评估板及PLL板发现我司的评估板及PLL板RFoutB均悬空，对Vvco加51Ω电阻后失效的芯片均恢复正常。
查阅芯片手册发现芯片的RFoutA及RFoutB输出均为差分输出。
RFoutB悬空，导致恒流源电流全部从RFoutA输出导致的三极管电流过大，产生杂散及失锁。从改小Core Power Current能使芯片输出恢复正常也能从侧面说明此问题。且芯片手册上也有要求没用的输出管脚必须要做匹配处理，具体请见芯片手册。
四． 结论
芯片RFoutB没做匹配处理导致芯片输出失锁，为设计上的问题。