一、无源晶振和有源晶振测试结果对比
1．无源晶振测试
LR35使用无源晶振常温频偏测试结果为：1.5KHz左右
但是在高低温速率1的条件下存在丢包或者无法进行透传问题，前期通过更换不同大小的晶振以及调整匹配电容减小频偏，效果不理想，高低温还是丢包大。
2．有源晶振测试
有源晶振常温频偏测试为：0.375KHz
高温85度频偏测试为：0.75KHz，如下图所示，丢包也在正常范围内；
在低温-40度丢包也在正常范围内；在这里插入图片描述
二、62.5K带宽下最大频偏偏差通信测试
通过更换不同大小晶振以及调试匹配电容，以达到最大频偏偏差；
第一组：一个使用-10ppm，另一个使用+10ppm，并调节使用+10pppLR30模块匹配电容为12pf和10pf；测试频偏结果如下：
频偏偏差为15.25KHz，测试通信可以进行透传；
第二组：同样使用±10ppm晶振，调节+10ppm晶振匹配电容为2个10pf，测试频偏结果如下：
两者偏差为：16.125KHz，测试通信无法进行透传；
第三组：操作步骤同上，使得两者频偏偏差为：15.375KHz，测试通信可以进行透传；
第四组：操作步骤同上，使得两者频偏偏差为：17.15KHz，测试通信无法进行透传；
因匹配电容以及晶振原因无法进行详细频偏偏差测试，只能测试大概范围；
结论如下：在62.5KHz带宽下，可以进行通信的最大频偏偏差为15K左右；
三、开发总结
1、通过上面对比测试，有源晶振在高低温测试时，能有效的控制频偏范围，从而数据能够稳定进行传输。
2、62.5K带宽下能进行透传的频偏偏差范围为：不超过带宽的四分之一。