〖VIS17〗拓扑工具包TTK

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论文: The Topology ToolKit

作者: Julien Tierny, Guillaume Favelier, Joshua A. Levine 等等

单位: 巴黎索邦大学（Sorbonne University）

会议: VIS-17

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一、背景

很多科学可视化方法中会用到拓扑分析,本文实现了几种标量数据拓扑分析的关键算法,集成在拓扑工具包TTK中,并且全部开源.

二、内容

TTK算法包括:临界点critical points、积分线 integral lines、persistence diagrams、persistence curves、合并树merge trees、轮廓树contour trees、Morse-Smale复形Morse-Smale complexes、fiber surfaces、连续散点图continuous scatterplots、雅可比集Jacobi sets、Reeb空间Reeb spaces等等。

三、网址：https://topology-tool-kit.github.io/

四、工具包界面

五、引用
J. Tierny, G. Favelier, J. Levine, C. Gueunet, M. Michaux. IEEE Transactions on Visualization and Computer Graphics. Proc. of IEEE VIS 2017.

bibtex如下：

@article{  ttk,  author = "Julien Tierny and Guillaume Favelier and Joshua A. Levine and Charles Gueunet and Michael Michaux",  title = "The {T}opology {T}ool{K}it",  journal = "IEEE Transactions on Visualization and Computer Graphics (Proc. of IEEE VIS)",  year = "2017",  note = "\url{https://topology-tool-kit.github.io/}"}