NFA100-E是一套功能强大且极具灵活性的Nand Flash分析系统，它最大限度地满足用户的对于Nand Flash的信息分析需求以及对这些信息的再处理需求。
- NFA100-E最大限度地提供NAND的各种原始信息。
对NAND的原始信息只能通过对NAND发送各种命令，同时读取返回的结果来判断，NFA100-E除了可以发送擦除、写入、读取、重置、获取ID等简单的命令外，还能发送诸如set feature/get feature等命令，可以很容易实现Nand Flash的诸如ReadRetry（RR）等方面的测试。
NFA100还能发送用户自定义的command (1-byte command)，可支持于客户的一些特殊测试。 - 有能力对各种原始信息进行再处理
NFA100-E有很强的对原始信息的再处理能力，瑞耐斯也可以开发各种算法为客户提供建议或者定制服务。比如坏块扫描和管理、Nand Flash等级筛选等。
NFA100-E为客户提供了一个完全开放的平台，非常方便客户自行按照自己的需求设计各种测试。
NFA100-E支持所有主流Nand Flash，对于非主流Nand Flash，可以根据客户Datasheet进行添加功能，使之支持。NFA100-E支持2D/3D SLC、MLC、TLC。同时，NFA100-E也支持所有主流的封装类型，NFA100-E配备完整的Socket套装，可以满足客户任意封装类型的测试，而无需重新采购Socket。NFA100-E支持同步、异步MLC/SLC/TLC Nand Flash，支持16K page size，支持3D Nand Flash，支持对闪存时钟进行设定，支持Read Retry、MLC转SLC等特殊测试需求，提供各种灵活的Pattern的设定方式，支持对Block、page进行各种测试参数，以及自定义测试参数；如果这些参数仍不能满足您的特殊测试需求，还可以通过脚本方式来任意定义测试参数，即使通过脚本来测试，您也无需花任何时间和精力学习脚本语言，瑞耐斯NFA100-E脚本生成器会让您填空一样根据您填写的需求自动帮您生成脚本
面向对象
NFA100-E主要面向：企业闪存控制开发人员、高校教授及硕士、博士进行闪存研究、以及各种特殊单位进行闪存的安全性、可靠×××的研发人员。
技术指标
1、支持最新制程3D Nand Flash，1x nm以及25nm，34nm，56nm制程Nand Flash；
2、支持SLC，MLC，TLC，eMLC；
3、支持8位和16位异步Flash；
4、支持同步，Toggle Flash；
5、支持Micron、Toshiba、Samsung、Intel、Sandisk，Hynix厂商所有常规Nand Flash；
6、支持TSOP48，BGA63，BGA100，BGA132，BGA152封装；
7、可以定制开发非常规封装、自定义封装Nand Flash。
性能指标
1、通过USB2.0接口测试设备内部连接工控电脑，计算由测试主板FPGA完成，对工控电脑资源消耗极低，USB2.0仅仅是将计算结果反馈给软件，因此不会对性能产生任何影响；
2、测试效率主要取决于所需要测试Nand Flash的接口性能以及所需测试项目的内容，如：测试P/E cycle，所需时间完全取决于测试Block数量、测试pattern，及Nand Flash接口的性能。
特殊用途
1、测试客户自主开发的BCH ECC或者LDPC强度；
2、测试Read Retry
3、对Nand Flash进行电压拉偏测试；
4、对Nand Flash进行物理烧毁测试；
如有兴趣请联系[email protected]