电池充电那些事之磷酸铁锂电池充电时概率性芯片烧毁

背景:
BQ24630(规格书中最大支持到7串电池)对6串的磷酸铁锂电池(21.6V,3000mAH)充电。根据TI的demo原理图进行设计(demo设计是接入4串电池),但是在不接入电源,仅插入电池时,会有30%的概率导致充电芯片烧坏,风险特别高

解决方案:
由于电池电压接近规格书,导致在上电瞬间有很高的毛刺,使用TVS、稳压管、加大电容等都无法实现消除毛刺的作用;经过实验,在电池与IC之间增加一个MOS电路,延迟约300ms后,使电池电压导通,可以有效消除此问题

缓冲电路

总结&心得:
增加mos缓冲电路,保证原来方案不更改的情况下,消除IC损坏风险,满足MP正常生产。关键点、易错点:在进行设计是,要注意demo原理图的参考电路,与实际使用存在的差异,注意风险管控。针对高电压,大容量的电池的相关电路,需要在设计和测试时考虑到多种条件,发现问题,及时在试产阶段前解决,避免后续出现方案变更或造成量产延迟。

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转载自blog.csdn.net/ywl1204246322/article/details/108421631