Musca-S1测试芯片基于三星Foundry28纳米FD-SOI工艺技术，为物联网解决方案的片上系统设计提供了全新选择Arm采用三星Foundry工艺技术，推出首款支持嵌入式随机存取存储器(eMRAM)的测试芯片，能够运行于Mbed OS和ArmPelion物联网平台Musca-S1测试芯片集成的FD-SOI基底偏压和eMRAM技术，可运用于高能效物联网设备上的SoC设计测试芯片和开发板预计将于2019年第四季度提供给物联网设备设计师进行评估在美国的三星代工论坛上，Arm与三星Foundry、Cadence和Sondrel合作，展示了首款28纳米FD-SOIeMRAM的物联网测试芯片和开发板。
Musca-S1旨在为物联网设计人员在片上系统开发过程中提供更多选择。设计人员现在可以轻松实施更安全、更全面的物联网解决方案，使他们能够更加专注于核心产品的差异化，并加快上市时间。
Arm公司物理设计部门副总裁、总经理及Arm院士Gus Yeung表示：“一个由万亿互联设备构造世界的承诺并不遥远，但要想让物联网设备规模化，我们必须继续将一系列技术选项提供给设计人员进行测试和评估。这种合作产生了一个真正的端到端解决方案，确保物联网设计人员能够从设备到数据的安全性对其产品设计进行原型设计。”
相对于之前Arm的Musca解决方案，Musca-S1测试芯片板现在支持测试和评估新的eMRAM技术，通过安全内存来实现可靠、低功耗和安全的设备开发。eMRAM技术优于传统嵌入式闪存（eFlash）存储技术，因为它可以轻松扩展到40纳米以下的工艺技术，使片上系统（SoC）设计人员能够根据各种用例对内存和功耗的要求，更加灵活地扩展其内存需求。
Musca-S1测试芯片整合了片上电源控制、三星Foundry的反向体偏置（Reverse Body Biasing）和eMRAM断电非易失性存储器，支持对新型高能效受控物联网设备的测试和评估。在三星Foundry硅片上，设计人员将首次有机会运行Arm®
Mbed™ OS，并且使用Arm Pelion™物联网平台来测试设备和数据管理功能。
通过将Arm IP和软件解决方案集成在一块开发板上，物联网设计人员可以测试和评估Arm的端到端安全物联网解决方案，大规模展示高能效和安全的物联网。此外，Musca-S1测试芯片板可以让设计人员灵活地为未来产品重新调整参考设计，从而进一步降低成本和上市时间。
以上就是Arm推出致力于高效、安全的物联网设计的全新物联网测试芯片和开发板，希望对各位有帮助。
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