半导体测试基础

一、基础术语

1.DUT

需要被实施测试的半导体器件通常叫做DUT(Device Under Test,一般就是被称为‘被测器件’)

器件引脚的常识

(1)数字电路中的引脚分为“信号”、“电源”和“地”三部分,
信号脚:包含输入、输出、三态和双向四类
输入:在外部信号和器件内部逻辑之间起缓冲作用的信号,它让输入管脚感应到电压并将它转换为内部逻辑能够识别的‘0’和‘1’电平,(就是外部信号到输入管脚再到0和1)
输出:输出管脚提供正确的逻辑‘0’或‘1’的电压,并提供合适的驱动力---电流
三态:输出的一类,它有关闭的能力(达到高阻态的状态)
(2)电源脚
“电源“和”地”统称为电源脚,因为它们组成供电回路,有着与信号引脚不同的电路结构。
VCC:TTL器件的供电输入引脚。
VDD:CMOS器件的供电输入引脚。
VSS:为VCC或VDD提供电流回路的引脚
GND:地,为信号引脚或其他电路节点提供参考0电位,

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转载自www.cnblogs.com/hyxk/p/11298076.html
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