基本概念
EEPROM的全称是“电可擦除可编程只读存储器”，即Electrically Erasable Programmable Read-Only Memory。是相对于紫外擦除的rom来讲的。但是今天已经存在多种EEPROM的变种，变成了一类存储器的统称.这种rom的特点是可以随机访问和修改任何一个字节，可以往每个bit中写入0或者1。这是最传统的一种EEPROM，掉电后数据不丢失，可以保存100年，可以擦写100w次。具有较高的可靠性，但是电路复杂/成本也高。因此目前的EEPROM都是几十千字节到几百千字节的，绝少有超过512K的。不过，这个在高稳定性设备上面，还是一个必需品。使用的人还不少。
接口类型
EEPROM的接口一般分为两种：SPI和I2C。
SPI接口为四线，型号如AT25XXX。典型的硬件电路：
I2C接口为2线，型号如24CL02/04/XX.典型的硬件电路：
这里直接按照标准的SPI协议和I2C协议即可，唯一不同的就是它们一些地址和普通的Flash不同，这个需要对着用户手册查看的
EEPROM的操作—SPI接口和I2C接口 - 远航路上ing - 博客园 读写的时候，注意几个问题，前面链接的文章写的很清楚了，我这里就不做赘述了。
软件实例
笔者做这块的测试设备，需要在stm32 f4系列上实现它的操作，整体功能已经交付客户使用，由于涉及到公司项目保密，就不贴代码了。有需要的朋友请参考下面代码，下面这几个非常不错，对着这些操作，基本能写出来。
GitHub - nimaltd/EEPROM: EEPROM emulation for stm32.
GitHub - nimaltd/EEPROM24xx: 24xx EEPROM library for stm32 HAL
GitHub - sinadarvi/SD_HAL_AT24: This library is based on I2C HAL Drivers of STM32 for AT24 EEPROM
顺便做个广告啊，有做flash这块的老化测试的朋友请联系，笔者在做flash的老化测试设备研发，产品已经出来了。欢迎垂询并试用。