高速采集卡在个别量程下有效值偏低问题排查

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项目背景介绍:

问题描述:

分析:


项目背景介绍:

     本项目背景时一块基于PCIe高速采集卡。前级模拟电路采用差放和VGA的方式,已适应不同应用场景下不同量程的应用需求。

问题描述:

经项目组测试人员反馈。

ENOB在1Vpp档位时,100M、150M、200M、251M时衰减异常,1VPP下有效值偏低,具体如下图。

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转载自blog.csdn.net/whm128/article/details/132173426