芯片测试（思维）

Description

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

Input

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

Output

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

Sample Input

Sample Output

1 3

已知好芯片比坏芯片多，因此测试为好次数最多的芯片必是好芯片

找出被测试为好次数最多的芯片，此芯片的测试数据必准确，输出此芯片的测试数据即可。

 1 #include <stdio.h>
 2 #include <string.h>
 3 #include <iostream>
 4 #include <string>
 5 #include <math.h>
 6 #include <algorithm>
 7 #include <vector>
 8 #include <stack>
 9 #include <queue>
10 #include <set>
11 #include <map>
12 #include <sstream>
13 const int INF=0x3f3f3f3f;
14 typedef long long LL;
15 const double eps =1e-8;
16 const int mod=1e9+7;
17 const int maxn=1e6+10;
18 using namespace std;
19 
20 int G[25][25];
21 
22 int main()
23 {
24     #ifdef DEBUG
25     freopen("sample.txt","r",stdin);
26     #endif
27     
28     int n;
29     scanf("%d",&n);
30     for(int i=1;i<=n;i++)
31     {
32         for(int j=1;j<=n;j++)
33             scanf("%d",&G[i][j]);
34     }
35     int id;
36     int MAX=0;
37     for(int i=1;i<=n;i++)
38     {
39         int num=0;
40         for(int j=1;j<=n;j++)
41         {
42             if(i!=j&&G[i][j]) num++;
43         }
44         if(num>MAX)
45         {
46             MAX=num;
47             id=i;
48         }
49     }
50     int flag=0;
51     for(int i=1;i<=n;i++)
52     {
53         if(G[id][i])
54         {
55             printf(flag==0?"%d":" %d",i);
56             flag=1;
57         }
58     }    
59     
60     return 0;
61 }