14 芯片测试（蓝桥杯）

14 芯片测试

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问题描述 :

有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入说明 :

输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出说明 :

按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

输入范例 :

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

输出范例 :

1 3

#include<stdio.h>
#include<memory.h>
int main(){
	int n,i,j,sum;
	int a[20][20];
	memset(a,0,sizeof(a));
	scanf("%d",&n);
	for(i=0;i<n;i++){
		for(j=0;j<n;j++){
			scanf("%d",&a[i][j]);
		}
	}
	/*
	因为好芯片比坏芯片多，所以每一个芯片与其它芯片n个比较时，

	只要测试的结果大于或等于n/2 就能证明这是好芯片，然后把芯片所在位置输出来即可

	以每一列为单位，列值不变，遍历行，行中对应的列的值为1进行累加，sum超过一半即为好的芯片
	*/
	for(i=0;i<n;i++){
		sum=0;
		for(j=0;j<n;j++){
			sum+=a[j][i];
		}
		if(sum>n/2){
			printf("%d ",i+1);
		}	
	}
	return 0;
}