题目描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入
输入描述:
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输入样例:
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
输出
输出描述:
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
输出样例:
1 3
HINT:时间限制：1.0s 内存限制：512.0MB
解题思路
就是一个n阶的矩阵，然后再判断每行0的个数是否大于一半，是的话就排除，不是就输出代表芯片的行数。
代码
import java.util.Scanner;
public class Main {
public static void main(String[] args) {
Scanner scanner=new Scanner(System.in);
int m=scanner.nextInt();//输入芯片的个数
int [][] a=new int[m][m];//接收数字
int [] b=new int[m];//存储坏的芯片个数
for (int i=0;i<m;i++) {
int j;
for (j = 0; j < m; j++) {
a[i][j] = scanner.nextInt();//填入数字
if (a[i][j]==0){
//判断是否是坏的
b[j]=b[j]+1;
}
}
}
for (int i=0;i<m;i++){
if (b[i]<=m/2){
//若坏的个数小于一半
System.out.print(i+1+" "); //输出芯片的编号
}
}
}
}