芯片测试
问题描述：
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
问题分析：
芯片测试的这种相互印证的问题，如果你没有看出列之间的关系，分析来就很麻烦，情况很复杂，会漏掉不少东西，
但如果找出最核心的点，就没问题了：
*每列数字之和如果大于一半，则为真，否则为假*
代码展示(已验证)：
//蓝桥杯 基础练习
#include <stdio.h>
#include <stdlib.h>
/* run this program using the console pauser or add your own getch, system("pause") or input loop */
int main(int argc, char *argv[])
{
int n,i,j,tmp;
int len = 0; // len 芯片输出数组的 长度 tmp 辅助排序
int sum=0; // 记录这一列数据的和 判定是否大于一半
scanf("%d", &n);
int a[20][20], b[20]; // b[]数组 输出真芯片
for (i = 0; i < n; i++) // 数据输入
for (j = 0; j < n;j++)
scanf("%d", &a[i][j]);
int m = n / 2;
for (j = 0; j < n; j++)
{
for (i = 0; i < n; i++)
{
sum += a[i][j];
}
if (sum> m) // 判断芯片是否为真 每列求和 总数大于一半为真，小于一半为假
{
b[len++] = j;
}
sum = 0;
}
for (i = 0; i < len;i++) // 真芯片编号数组排序 从小到大输出
for (j = i + 1; j < len; j++)
{
if (b[i]>b[j])
{
tmp = b[i];
b[i] = b[j];
b[j] = tmp;
}
}
// 少算一种 都为假的情况
// 相互之间判断
// 直接使用求和方法
for (i = 0; i < len; i++) // 输出真芯片
printf("%d ", b[i] + 1); // 从数组到数字 +1，编号和下标的关系
return 0;
泡泡：
找出核心规律以后，按照步骤 :
输入
判定
赋值给数组
排序
输出
一些小细节我在代码里都已经注释过了，看一下就好了。