【半导体】半导体芯片行业工艺中的英文术语

  • Arcing 电弧放电
  • PR burn 光阻烧焦
  • Peeling 掀起
  • Bubble 泡泡
  • Pits 凹洞
  • Broken 破片
  • Polymer 聚合物
  • Blind VIA 介层瞎窗
  • Poor planization 平坦化不良
  • Blister 发泡 ( 亮点突起 )
  • PR Shrink 光阻内缩
  • Foreign contamination 外来脏污
  • Poor Coating 光阻涂布不良
  • Corrosion 腐蚀
  • PR Flow 光阻流动
  • Craze 缺角
  • PR Lifting 光阻剥离
  • Crack 龟裂
  • PR Non-uniform 光阻厚度不均匀
  • Tape residue 残胶
  • PR remaining 光阻残留
  • Si fragment 碎晶片
  • Powder 粉末
  • Contamination 脏污
  • PR Bridge 光阻桥接
  • Dis-color 颜色异常
  • Residure ( ETCH) 蚀刻残留
  • Damaged 损伤
  • Residue( PHOTO ) 黄光光阻残留
  • Educt of Phosphorous 磷析出
  • Residue( unknow ) 无法定义之残留
  • Film abnorment 薄膜异常
  • Repeating Defect 重复性缺陷
  • Finger print 手指印
  • Roughness 粗糙
  • Flow type particle 扬起状尘埃
  • Residue( SPUT ) 金属溅镀残留
  • Metal flaking 金属剥落
  • Scratch 刮伤
  • Hillock 凸起
  • Si nodule 硅斑
  • Nitride haze 氮化硅表面雾状
  • Slip 滑移线
  • Local Defocus 区域聚焦不良
  • Shot Defocus Shot聚焦不良
  • Mis-alignment 对准不良
  • Stacking Faults 叠差
  • Missing pattern 定义不良
  • Spike 亮点,凸起物
  • Notching 老鼠咬 ( 锯齿状 )
  • Non-uniform 颜色 / 线不均匀
  • Tree - Like Defect 树枝状腐蚀
  • No Pattern 没有图形
  • Thickness abnormal 厚度异常
  • Orange Peel 橘子表面
  • Under develop 显影不良
  • Over-etch 蚀刻过度
  • Void 孔洞
  • Out of control 超出控制
  • W Precipitation 钨折出
  • Out of spec 超出规格
  • Particle 尘埃
  • Water spot 水痕

From 知乎:黑暗森林-张斌

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