标题：测试次数
x星球的居民脾气不太好，但好在他们生气的时候唯一的异常举动是：摔手机。
各大厂商也就纷纷推出各种耐摔型手机。x星球的质监局规定了手机必须经过耐摔测试，并且评定出一个耐摔指数来，之后才允许上市流通。
x星球有很多高耸入云的高塔，刚好可以用来做耐摔测试。塔的每一层高度都是一样的，与地球上稍有不同的是，他们的第一层不是地面，而是相当于我们的2楼。
如果手机从第7层扔下去没摔坏，但第8层摔坏了，则手机耐摔指数=7。
特别地，如果手机从第1层扔下去就坏了，则耐摔指数=0。
如果到了塔的最高层第n层扔没摔坏，则耐摔指数=n
为了减少测试次数，从每个厂家抽样3部手机参加测试。
某次测试的塔高为1000层，如果我们总是采用最佳策略，在最坏的运气下最多需要测试多少次才能确定手机的耐摔指数呢？
请填写这个最多测试次数。
注意：需要填写的是一个整数，不要填写任何多余内容。
先看一个问题：
一、题目：
有一栋楼共100层，一个鸡蛋从第N层及以上的楼层落下来会摔破， 在第N层以下的楼层落下不会摔破。给你2个鸡蛋，设计方案找出N，并且保证在最坏情况下， 最小化鸡蛋下落的次数。
二：
思路：假设我们使用二分的思想去考虑这道题，开始先测试第50层，如果鸡蛋坏了，那么我们就只剩下一个鸡蛋了，就是说我们只能又一次的测试机会了，如果我们在测试第25层时鸡蛋还是坏了，那我们就没有鸡蛋可以测试了。也就是说二分的思想不能保证一定能测试出。
换另一种想法，假设我们现在只有一个鸡蛋想要测试的话，那么我们就只能从第一层开始测试，之后是第二层，第三层。。。。。。直到这个鸡蛋坏了。
现在我们有两个鸡蛋，我们可以怎么办呢：
假设们只能测试k次，那我们第一测试时就从第k层开始，如果鸡蛋坏了，那就用剩下的一个鸡蛋从第一层开始测试。如果没坏，那就测试k+(k-1)层，如果这一层坏了，那就测试k+1-->k+(k+1)层，否则就测试第k+(k-1)+(k-2)层。。。。
用dp的思想：
dp[i][j]表示用i个鸡蛋测试j层的次数；
于是dp[i][j]=min(dp[i][j],max(dp[]i-1[k-1],dp[i][j-k])+1);
回到本题，有三部手机，楼层是1000。思想和上面的一样，直接给代码：
#include <bits/stdc++.h>
using namespace std;
int main()
{
int dp[4][1100];
for (int i = 1; i <= 1000; i++)dp[1][i] = dp[2][i]=dp[3][i]=i;
for (int i = 2; i <= 3; i++) {
for (int j=1; j <= 1000; j++) {
for (int k = 1; k < j; k++) {
dp[i][j] = min(dp[i][j], max(dp[i - 1][k - 1], dp[i][j - k])+1);
}
}
}
cout << dp[3][1000] << endl;
return 0;
}
最后得到的答案是19